能谱仪QVANTAX2007

能谱仪QVANTAX2007

产品介绍：

品牌：日本电子

型号：QVANTAX2007

名称：能谱仪

应用领域：

高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；

进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

技术参数：

探头：一般为Si(Li)锂硅半导体探头
探测面积：几平方毫米
分辨率（MnKa）：～133eV
探测元素范围：Be4～U92

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